长江储存 X3-6070 QLC 闪存颗粒耐用性媲美 TLC，高密度、高性能、高耐用性，第三代 Xtacking 技术

近日，长江存储在闪存市场峰会上表示，采用第三代 Xtacking 技术的 X3-6070 QLC 闪存寿命媲美 TLC 颗粒，可实现 4000 次 P / E 的擦写寿命（大多TLC 在3000次左右），这迅速引起了国内外媒体的关注。

长江存储 CTO 表示，存储市场面临的三大新挑战是每 Gb 成本快速降低、读写性能加速提升和满足多样化需求，客户期待的是以同样的价格获得更高密度的存储。

在密度方面，3D NAND 的堆叠层数提升成为业界新问题，因此有必要推动 QLC NAND 的应用。采用第三代 Xtacking 技术的 X3-6070 QLC 闪存相较上代产品 IO 速度提升 50%、存储密度提高 70%、擦写寿命达 4000 次 P / E。

Xtacking 结构将 CMOS 电路同闪存阵列分离的设计对操作算法带来了更大灵活性，从而提升了 QLC 的可靠性。

最后，长江存储在现场还展示了采用QLC颗粒的 PC41Q 消费级固态硬盘，连续读写为 5500MB/s，可靠性媲美 TLC 固态硬盘，实现了 30℃ 下 1 年的数据保持和 200 万小时的 MTBF 时间。